Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Xiao LiuQiang Xu
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
2013124 psl.ISBN 9783319005324
Viršelis: KietasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisFiziniai ir technologijos mokslaiStatyba, inžinerija
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra