Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Xiao LiuQiang Xu
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
2013124 psl.ISBN 9783319005324
Viršelis: KietasAnglų k.
Fiziniai ir technologijos mokslaiLiteratūra užsienio kalbomisNegrožinė literatūraStatyba, inžinerija
Šią knygą siūlo (0)
Šios knygos nori (0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra