Thermal Testing of Integrated Circuits
Prisijungti
Siūlomos
Ieškomos
Įvykę mainai
Pagalba
Thermal Testing of Integrated Circuits
Josep Altet
Antonio Rubio
Leidėjas:
Springer-Verlag GmbH
2002
ISBN 9781402070761
Viršelis: Kietas
Anglų k.
Negrožinė literatūra
Literatūra užsienio kalbomis
Fiziniai ir technologijos mokslai
Statyba, inžinerija
Redaguoti informaciją
Šią knygą siūlo
(0)
Šios knygos nori
(0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra