Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Niraj K. JhaSandip Kundu
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Leidėjas: Springer US
1989260 psl.ISBN 9780792390565
Viršelis: KietasAnglų k.
Fiziniai ir technologijos mokslaiLiteratūra užsienio kalbomisNegrožinė literatūraStatyba, inžinerija
Šią knygą siūlo (0)
Šios knygos nori (0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra