Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Guido GroesenekenBen KaczerJacopo Franco
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
2013208 psl.ISBN 9789400776623
Viršelis: KietasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisFiziniai ir technologijos mokslaiStatyba, inžinerija
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra