VISOMS MAINOMOMS KNYGOMS –50%! ☃️ Nuolaida taikoma krepšelyje iki gruodžio 31 d.

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
2018ISBN 9783319912035
Viršelis: KietasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisFiziniai ir technologijos mokslaiStatyba, inžinerija
Šią knygą siūlo (0)
Šios knygos nori (0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra