GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Band 46)

GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Band 46)

Peng Luo
GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Band 46)
Leidėjas: Cuvillier Verlag
2019152 psl.ISBN 9783736999060
Viršelis: MinkštasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisFiziniai ir technologijos mokslaiStatyba, inžinerija
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra