VISOMS MAINOMOMS KNYGOMS –50%! ☃️ Nuolaida taikoma krepšelyje iki gruodžio 31 d.

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Gerd Kaupp
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
2006ISBN 9783540284055
Viršelis: KietasAnglų k.
Negrožinė literatūraLiteratūra užsienio kalbomisFiziniai ir technologijos mokslai
Šią knygą siūlo (0)
Šios knygos nori (0)
Pradinis
Krepšelis
Pokalbiai
Pranešimai
Paskyra